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Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀簡介

Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀簡介

更新時(shí)間:2024-09-21
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Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀簡介吸引人的設(shè)計(jì),大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
操作簡單,菜單指引的操作提示。
電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
大約100個(gè)預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層,包括測量線材。

Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀簡介的詳細(xì)資料:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件

Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀

1、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 (庫侖測量系統(tǒng))使用庫侖方法測量鍍層厚度。配備了一個(gè)大的,易讀取的液晶顯示器,直觀的菜單指引系統(tǒng),該儀器理想的適用于測量幾乎所有的金屬基材或非金屬基材上的金屬鍍層的厚度,包括多鍍層。使用在不能進(jìn)行或不需要進(jìn)行非破壞性測試方法的場合。

2、Fischer菲希爾Couloscope CMS2測厚儀 準(zhǔn)確地測量范圍在0.05 - 40 µm (0.002 - 1.6 mils)之間的金屬鍍層。該設(shè)備可以存儲(chǔ)上百條預(yù)先定義好的鍍層/基材應(yīng)用,從單鍍層,例如鋅在鋼上,直至三鍍層,例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。

3、用來測定多層鎳鍍層系統(tǒng)中各個(gè)單個(gè)的鍍層厚度以及各鍍層之間的電化學(xué)電位差。在電鍍工業(yè)中,對(duì)多層鎳的測量變得越來越重要了,雙層鎳的測量已成為一種標(biāo)準(zhǔn)的操作。



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